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產品詳細頁
新款GEST系列硅片電阻率測試儀

新款GEST系列硅片電阻率測試儀

  • 產品型號:GEST-124
  • 更新時間:2020-07-06
  • 產品介紹:新款GEST系列硅片電阻率測試儀主要用于測量測量金屬線材或其它形狀金屬導體電阻率的儀器.儀器由主機、測試架兩大部分組成。主機包括高靈敏的直流數字電壓表和高穩定的直流恒流源測量試驗設置通過觸摸屏進行操作和設置,頁面布局合理,人性化設計,可對測試結果進行打印。
  • 在線留言 010-57223838

產品介紹

粉末電阻率測試儀(四探針法)

產品名稱:粉末電阻率試驗儀(四探針法)

產品型號:GEST-124

參考標準:YS T 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6 部分:粉末電阻率的測定.pdf

GB/T 24525-2009 炭素材料電阻率測定方法

GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正極材料》中關于粉末電導率的測定方法中用于仲裁方法的四探針法要求制作

產品概述:

粉末電阻率試驗儀主要用于測量粉末材料電阻率試驗的儀器.

由于粉末材料的密實度不同,在松裝和振實密度條件下,所測試得到的數據是不同的,所以測試粉末電

阻,要求在規定的壓力條件下進行測試.便于進行有效數據的測試及對比.

儀器由主機、測試架兩大部分組成。主機包括高靈敏的直流數字電壓表和高穩定的直流恒流源測量

試驗設置通過觸摸屏進行操作和設置,頁面布局合理,人性化設計,可對測試結果進行打印。

 

 儀器主要技術指標:

一、 測量范圍:

測量半導電電阻率時: 電阻率10-5--105Ω-cm;分辯率10-6Ω-cm

                      測量其他(電線電纜)電阻時: 電阻10-4--2X105Ω,分辨率1uΩ

二、 電壓測量:

1.  量程 2 mV、20 mV、200 mV、2V

2.  測量誤差  2mA檔±(0.5%讀數+8字);20mV—2V擋±(0.5%讀數+2字)

3.  顯示4 1/2 位數字顯示0—19999具有極性和過載自動顯示,小數點、單位自動顯示。

三、 恒流源:

1. 電流輸出:1μA 、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA.

2.    電流誤差:±(0.5%讀數+2字)

四、 測量電極:

1、電極材質:銅

2、探針間距:1MM

五、粉末套筒:

1、內徑:16mm

2、行程:50 mm

六、加載裝置:

1、加載方式:手動加載

2、加載機構:杠桿液壓加載

3、傳感器量程:10KN

 

 

使主機重新處于諧振點(Q值*值)上。7.第二次按下主機上的小數點(tgδ)鍵,顯示屏上原C2和Q2顯示變化為C1和Q1,同時顯示介質損耗系數tn=.xxxxx,即完成測試。8.出錯提示,當出現tn=NO顯示時,說明測試時出現了差錯,發生了Q1≤Q2和C1≤C2的錯誤情況。LKI-1型電感組共包括不同電感量的電感9個,凡儀器在進行測試線圈的分布電容量,電容器的電容量,高頻介質損耗,高頻電阻和傳輸線特性阻抗等高頻電路和元件的電性能時,必須用電感組作輔助工具。本電感組有較高Q值,能使儀器測量時得到尖銳諧振點,因而增加其測量的準確度,1用錫箔紙覆膠在材料的兩面,上下層錫箔紙不能接觸。2超薄材料需要疊加:疊加方式如下μ貼合6層后測試;200μ貼合8層后測試;175μ貼合9層后測試;125μ貼合12層后測試;100μ貼合15層后測試;75μ貼合20層后測試;50μ貼合30層后測試。

 5.調節S916測試夾具的測微桿,使S916測試夾具的平板電容極片相接為止,按ZERO清零按鍵,初始值設置為0。再松開兩片極片,把被測樣品夾入兩片極片之間,調節S916測試夾具的測微桿,到的平板電容極片樣品止(注意調節時要用S916測試夾具的,以免夾得過緊或過松),這時能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值,既是樣品的厚度D2,改變主機上的主調電容容量,使主機處于諧振點(Q值*值)上,然后按一次主機上的小數點(tgδ)鍵,在顯示屏上原電感顯示位置顯示C0=xxx,記住厚度D2的值。6.取出S916測試夾具中的樣品,(保持S916測試夾具的平板電容極片之間距不變)這時主機又失去諧振(Q值變?。?,再改變主機上的主調電容容量。

放入材料,測出材料厚度后取出材料,調回到剛才材料厚度,調節主調電容,使測試電路重新諧振,此時可變電容器值為C2,Q值讀數為Q2。公式里的C0只是電感的分布電容值,2.把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個端子上。3.在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線圈(本主機配套使用的LKI-1電感組能滿足要求),如:1MHz時電感取100uH,15MHz時電感取1.5uH。4.被測樣品要求為圓形,直徑50.4--52mm/38.4--40mm,這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間,樣品太薄或太厚就會使測試精度下降,樣品要盡可能平直

 

 

 

新款GEST系列硅片電阻率測試儀

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